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無(wú)損檢測(cè)設(shè)備原理

更新時(shí)間:2024-12-06      瀏覽次數(shù):202

基于各種原理的無(wú)損檢測(cè)方法有很多,這里我們將講解需要設(shè)備的檢測(cè)方法和原理。

1、超聲波探傷檢驗(yàn)設(shè)備

超聲波探傷檢測(cè)設(shè)備原理

圖1 超聲波探傷檢測(cè)設(shè)備原理

超聲波探傷檢測(cè)設(shè)備是由超聲波探頭發(fā)射高壓超聲波,接收傳播并穿過(guò)被檢物體表面和內(nèi)部并被內(nèi)部缺陷和表面缺陷反射的振動(dòng)回波的裝置。確定內(nèi)部缺陷和表面劃痕的位置和大小。

超聲波檢測(cè)設(shè)備的種類

圖2 超聲波檢測(cè)設(shè)備的類型

超聲波探傷的方法有脈沖反射法、透射法、共振法三種,根據(jù)被檢物體的形狀可采用不同的方法。

2、磁粉探傷設(shè)備

磁粉探傷設(shè)備原理

圖3 磁粉探傷設(shè)備原理

磁粉探傷設(shè)備是利用表面缺陷處發(fā)生的磁通量擾動(dòng)的方法。

當(dāng)強(qiáng)磁場(chǎng)作用于磁性檢查物體時(shí),在表面有劃痕的區(qū)域會(huì)產(chǎn)生磁通擾動(dòng)。當(dāng)有色鐵粉或熒光磁粉撒在檢查目標(biāo)上時(shí),鐵粉或熒光磁粉與表面缺陷處泄漏磁通的形狀對(duì)齊,使其成為可見的圖案或光的集合。

通常,這種方法涉及不使用設(shè)備的目視檢查,但也使用配備圖像識(shí)別設(shè)備的自動(dòng)磁粉檢查設(shè)備。

3、渦流探傷設(shè)備

渦流探傷設(shè)備原理

圖4 渦流探傷設(shè)備原理

渦流探傷設(shè)備是通過(guò)內(nèi)嵌銅絲纏繞線圈的探頭通入交流電,使其靠近被檢物體表面,通過(guò)測(cè)量被檢物體表面產(chǎn)生的過(guò)電流擾動(dòng)來(lái)判斷有無(wú)缺陷。馬蘇物體的表面。

由于缺陷判別精度和靈敏度需要線圈形狀與被檢物體相匹配,因此通常在檢查多個(gè)相同形狀的物體時(shí)使用。

4、射線檢測(cè)設(shè)備

射線檢測(cè)設(shè)備原理

圖5 射線檢測(cè)裝置原理

利用在輻射中具有較高穿透性能的高能X射線照射被檢物體。發(fā)射的輻射被檢測(cè)器接收,并利用信號(hào)繪制或使用圖像識(shí)別裝置進(jìn)行檢測(cè)我會(huì)檢查物體內(nèi)部的缺陷。

過(guò)去,通過(guò)將膠片暴露在輻射下來(lái)目視確定是否存在缺陷,類似于人體的 X 射線檢查,但現(xiàn)在使用圖像識(shí)別自動(dòng)檢測(cè)缺陷的設(shè)備越來(lái)越多。


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